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Trooper-V: Handler AOI au niveau des wafers pour semi-conducteurs

Trooper-V: Handler AOI au niveau des wafers pour semi-conducteurs

Trooper-V est un handler AOI haute vitesse de niveau supérieur conçu pour les packages au niveau des tranches. En seulement 2 minutes, le système d’inspection Trooper V est capable d’inspecter une plaquette entière composée d’environ 70 000 puces avec un objectif de haute qualité. Il permet différents niveaux de grossissement pour s’adapter à différents types et tailles de puces et est disponible dans différentes conceptions en fonction de nos clients. exigences, l’une qui lui permet de fonctionner dans des salles blanches (classe niveau 10) et l’autre qui est utilisable dans les ateliers de production standard.

  • Wafer par heure +30 Wafers 
  • Wafer brut (6, 8″ ou 12″) Anneau du wafer  Mylar (6, 8″ ou 12)
  • Microscope avancé avec capacité de champ clair et sombre
  • Objectif de haute qualité (grossissement 2,0x 5,0X 7)
  • Éclairage de la source lumineuse avec configuration RVB
  • Technologie d’imagerie infrarouge à ondes courtes (SWIR) pour SiC
  • Génération de cartes de wafers personnalisables
  • Intégrable à la gestion de plusieurs tailles de wafers 
  • Angle XY d’alignement pré-wafer
  • Inspection de la surface de la matrice (fissures, écaillage du métal, coupe mal alignée, corps étrangers manquants, débris du bord de la fraise, reconnaissance optique des caractères, décollement du polyimide, capacités de vision, décoloration et contamination)
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