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Trooper-BI Testeur de Burn-in (déverminage) pour wafer-level VCSEL/LED/Micro LED

Ceci est une solution complète visant le probe & burn-in des substrats VCSELLED au niveau de wafer Le testeur peut tester jusqu’à 7 200 DUTS simultanément avec un contrôle de température allant jusqu’à 135°C. Il possède des fonctions intelligentes comme le système de refroidissement intégré à l’eau, le système de détection des fuites et le système de surveillance de la température.

  • Testeur des wafers
  • Numéro Canal jusqu’à 7200
  • Profil de température programmable
  • Précision de la broche de probing +/- 50um
  • Tolérance de la mesure du courant 0,2A +/-1%
  • Source Plage de tension 5-24V Acc 20mV +/-1%
  • Réglage de la température 45-150 °C
  • Sans condensation
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produits de Test de Wafer