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JAP-3000 Automatisiertes Bestückungssystem für vorgeprüfte Wafer

JAP-3000 Automatisiertes Bestückungssystem für vorgeprüfte Wafer
  • Automatisches Bestückungssystem für vorinspektionierte Wafer
  • Wafer-auf-Tray-Verfahren
  • Durch einfaches Umrüsten des Werkzeugkopfes mit Hilfe des Tray-Drehtisches können verschiedene DDIs eingesetzt werden.
  • Hochpräzise Positionierung durch inkrementelle Positionierung mit einer Genauigkeit von 0,01 mm
  • 100% Chipplatzierung auf dem Tray durch 1st & 2nd Vision System.
  • Hauptstromversorgung: 220V±10%, 60Hz, 1-Phasig.
  • Luftdruck : 5 ㎏/㎠ (Versorgungseingang : PT3/8)
  • Abmessungen M/C : 1200 (L) x 1100 (B) x 1650 (H)
  • Luftdruck : 5 ㎏/㎠ (Versorgungseingang : PT1/2)
  • Gewicht: ca. 1300 ㎏.

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