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Test-Handler-Maschinen

Test-Handler-Maschinen

4JMSolutions hat sich auf die nächste Generation von Inspektionsmaschinen spezialisiert, die speziell für die visuelle Inspektion von Wafern und Gehäusen sowie für elektrische Tests entwickelt wurden. Wir wissen, dass in der sich schnell entwickelnden Welt der Halbleiter Präzision und Effizienz von größter Bedeutung sind. Aus diesem Grund haben wir eine Reihe von Spezialgeräten auf den Markt gebracht, die den neuesten Stand der Technik im Bereich der Halbleiterinspektion widerspiegeln.

Unser Flaggschiff, die GIDEON-Serie, ist ein Beweis für unser Engagement für Innovation. Diese Serie besteht aus einzelnen Tray-to-Tray-Handlern, die perfekt integriert sind, um an bis zu drei Testzellen anzudocken. Dadurch wird eine unübertroffene Flexibilität und Wiederverwendbarkeit gewährleistet, die den sich ständig ändernden Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht wird. Solche Halbleiter-Testgeräte sind ein Beweis für unsere Kompetenz, da sie eine Vielzahl intelligenter Sensoren verarbeiten können, darunter 3D-Sensoren mit strukturiertem Licht, Näherungssensoren, 3D-Flugzeitsensoren, Umgebungslichtsensoren und viele mehr.

Was zeichnet unsere Maschinen aus? Nehmen wir zum Beispiel die Maschine für 3D-Sensoren mit strukturiertem Licht. Sie bietet eine UPH von 600 bis 1200, je nach Paket und Maschinenkonfiguration. Sie verfügt über JEDEC Tray-Eingang und -Ausgang, was eine nahtlose Integration in bestehende Systeme ermöglicht. Darüber hinaus gewährleistet die fortschrittliche Vision Capabilities-Funktion eine einwandfreie 2D-Matrix-Inspektion mit einer Genauigkeit von bis zu 0,3 mm x 0,3 mm. Die sechsseitige AOI-Inspektion in Verbindung mit einer Bildverarbeitungsgenauigkeit von 10 µm sorgt dafür, dass kein Fehler unentdeckt bleibt.

Aber es geht nicht nur um die Bildverarbeitung. Unsere Testmöglichkeiten umfassen umfassende Tests wie den LIV Sweep & Wavelength Test, der Parameter wie Leckstrom, Durchlassspannung, Power Conversion Efficiency (PCE) und mehr berücksichtigt. Für eine umfassende Abdeckung beinhaltet die Time of Flight 3D-Sensormaschine einen Tri-Temperatur-Test, der von -40C bis 150C reicht.

Darüber hinaus erweitert 4JMSolutions seine Kapazitäten um eine Bildsensor-Testmaschine, die für spezielle Tests wie den elektrischen Funktionstest und den räumlichen Kantenfrequenzgang entwickelt wurde. Die Micro LED Test-Maschine hingegen ist perfekt für umfassende Tests wie den Colorimeter Image Test und den Electrical Functional Test ausgestattet und stellt sicher, dass jeder Halbleiteraspekt umfassend analysiert wird.

Die Wafer-Level Power Device Burn-in Test-Handler-Maschine und die Modul-Level Power Device Burn-in Test-Handler-Maschine bieten unübertroffene Möglichkeiten für diejenigen, die nach fortschrittlichen Stromversorgungslösungen suchen. Mit bis zu 480 parallelen Die-Tests pro Wafer bzw. 720 parallelen Power-Tests pro Modul stellen sie die Spitze der Effizienz dar.

Sensoren

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Micro LED Unsere GIDEON-Serie ist ein einzigartiger Tray-to-Tray-Handler, der zur Erhöhung der Flexibilität und Wiederverwendbarkeit entweder an eine einzelne Testzelle oder an bis zu drei

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Spektrumsensor Unsere GIDEON-Serie ist ein einzigartiger Tray-to-Tray-Handler, der zur Erhöhung der Flexibilität und Wiederverwendbarkeit entweder an eine einzelne Testzelle oder an bis zu drei Testzellen

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Bildsensor Unsere GIDEON-Serie ist ein einzelner Tray-to-Tray-Handler, der an eine Testzelle oder an bis zu 3 Testzellen angedockt werden kann. Zur Erhöhung der Flexibilität und

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Umgebungslichtsensor Unsere GIDEON-Serie ist ein einzigartiger Tray-to-Tray-Handler, der zur Erhöhung der Flexibilität und Wiederverwendbarkeit entweder an eine einzelne Testzelle oder an bis zu drei Testzellen

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3D-Flugzeitsensor

3D-Flugzeitsensor Unsere GIDEON-Serie ist ein einzigartiger Tray-to-Tray-Handler, der zur Erhöhung der Flexibilität und Wiederverwendbarkeit entweder an eine einzelne Testzelle oder an bis zu drei Testzellen

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Näherungssensor

Näherungssensor Unsere GIDEON-Serie ist ein einzigartiger Tray-to-Tray-Handler, der zur Erhöhung der Flexibilität und Wiederverwendbarkeit entweder an eine einzelne Testzelle oder an bis zu drei Testzellen

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