Machines Handler de test

Machines Handler de test

Chez 4JMSolutions, nous sommes experts dans les machines handler de tests de nouvelle génération spécialement conçues pour les tests électriques et vision des boîtiers sur les wafers . Nous comprenons que la précision et l’efficacité sont des éléments essentiels dans le domaine en constante évolution des semi-conducteurs. C’est pourquoi nous avons présenté une gamme d’équipements spécialisés qui exploite la technologie la plus avancée en matière d’équipement de test pour les semi-conducteurs.

Notre série de pointe GIDEON témoigne de notre engagement envers l’innovation. Cette gamme se compose de handlers simples tray-to-tray , parfaitement intégrés pour s’accrocher à un maximum de trois cellules de test . Cela garantit une flexibilité et une réutilisation inégalées, qui s’adaptent aux exigences en constante évolution des semi-conducteurs. Ces machines de test des semi-conducteurs témoignent de notre expertise, car elles traitent une multitude de capteurs intelligents, notamment des capteurs 3D à lumière structurée, des capteurs de proximité, des capteurs 3D à temps de vol, des capteurs d’éclairage ambiant et bien plus encore.

Qu’est-ce qui différencie nos machines ? Prenons l’exemple de la machine à capteurs 3D utilisant une lumière structurée. Cette dernière offre un UPH allant de 600 à 1 200, en fonction du type de package et de la configuration choisie. De surcroît, ce handler fournit un input et output JEDEC Tray pour garantir une intégration transparente dans les systèmes existants. La fonctionnalité avancée Vision Capabilities assure quant à elle une inspection matricielle 2D impeccable avec des mesures précises atteignant jusqu’à 0,3 mm x 0,3 mm. Enfin, grâce à l’inspection AOI sur six faces ainsi qu’une vision ultra-précise de l’ordre des microns (10 µm), aucun défaut ne passe inaperçu.

Cependant, les compétences de vision ne sont pas les seules en jeu. Nos capacités de test incluent des tests complets tels que LIV Sweep & Wavelength Test, qui intègrent des paramètres tels que la fuite de courant, la tension directe et l’efficacité de conversion de puissance (PCE), entre autres. Pour une couverture complète, le testeur 3D Time-of-Flight comprend un test à trois températures allant de -40°C à 150°C.

De surcroît, 4JMSolutions étend son expertise à la machine de test de capteurs d’images, destinée à des tests spécialisés tels que l’évaluation fonctionnelle électrique et la réponse en fréquence spatiale des contours. En ce qui concerne la machine de test Micro LED, elle est parfaitement équipée pour effectuer une évaluation exhaustive incluant le test colorimétrique de l’image ainsi que l’évaluation fonctionnelle électrique afin d’assurer une analyse complète du semi-conducteur sous tous ses aspects.

Pour ceux qui recherchent des solutions avancées en matière d’alimentation, la machine Handler de test du burn-in-test des Power device wafer-level et la machine handler de test du module-level pour les Power device burn-in-test offrent des capacités inégalées. Avec respectivement jusqu’à 480 parallélismes de test de puce par wafer et 720 parallélismes de test de module de puissance, ils représentent le summum de l’efficacité.