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AOI pour semi-conducteurs

Machines AOI pour Wafers , Dies et semi-conducteurs encapsulés

4JMSolutions est en train de transformer ce secteur en proposant une gamme de machines d’inspection optique automatisées et sophistiquées, spécialement conçues pour les wafers , les Dies et les semi-conducteurs encapsulés. Voici quelques-unes de nos machines AOI:

La machine Eagle V8500, système d’inspection par vision 3,5D, qui illustre la technologie de pointe coréenne, étant la première à introduire la méthode du faisceau fendu pour l’inspection PKG. Ce système ne se contente pas d’inspecter les déformations avec une grande précision, il est également conçu pour une automatisation efficace, ce qui améliore la productivité sans compromettre la précision.

La machine Eagle V8000. Véritable système pionnier intégrant APS + AVI, elle offre des perspectives de vision multiples, qui garantissent une inspection complète, de la création du wafer jusqu’au waffel tray. Mettant l’accent sur l’efficacité de l’utilisateur, ses modes vont du tout automatique au fonctionnement sans intervention, ce qui permet de répondre à divers besoins opérationnels.

La machine JAI-3000 incorpore des systèmes de vision 2D et 3D, spécialement conçus pour les inspections visuelles et de marquage des packages de type TSOP et BGA. Elle garantit que seuls les meilleurs dispositifs sont acceptés après des inspections 2D/3D et de marquage rigoureuses.

Conçu pour les wafers préalablement inspectées, le JAP-3000 excelle dans la précision, avec une précision de positionnement de 0,01 mm. Son système de vision double garantit un placement parfait des puces, s’adaptant parfaitement aux différentes configurations DDI.

Le Handler AOI Trooper-V pour wafer-level . Véritable merveille à grande vitesse, il peut inspecter un nombre stupéfiant de 70 000 dies en seulement 120 secondes. Avec son microscope avancé, son objectif de haute qualité et ses diverses capacités de vision, Trooper-V incarne la nouvelle génération de test AOI.

système d'inspection

système d'inspection

AOI après montage en surface

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