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Trooper-BI Wafer-Level VCSEL/LED/Micro LED Burn-in Test System

Es handelt sich um eine schlüsselfertige Lösung für das Testing und Bum-in von VCSEL-LED-Substraten auf Wafer-Ebene. Das Prüfgerät kann bis zu 7 200 DUTs gleichzeitig bei Temperaturen bis zu 135 °C prüfen. Der Tester ist mit intelligenten Funktionen ausgestattet, wie z. B. einem integrierten Wasserkühlungssystem, einem Leckage-Erkennungssystem und einem Temperaturüberwachungssystem.

  • Bis zu 7 200 Einheiten.
  • Pogo Pin Genauigkeit +/- 50 um
  • Einlaufzeit programmierbar
  • Ausgangsbereich 20mA-100mA/0,2A-1,5A 24V
  • Messtoleranz 0,2mA +-1% Temperatur
  • Temperatur 45-130C in 0,1C Schritten
  • Feuchtigkeit < 85% RH, nicht kondensierend
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Consumer Electronics
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