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Système de Burn-in test VCSEL/LED/Micro LED Trooper-BI pour wafer-Level

Il s’agit d’une solution complète clé en main pour le probing et burn-in des substrats LED VCSEL pour wafer-level . Le testeur peut tester jusqu’à 7200 DUTS en une seule fois avec une température contrôlée allant jusqu’à 135C. Il possède des caractéristiques intelligentes telles qu’un système intégré de détection des fuites de refroidissement de l’eau et un système de surveillance de la température.

  • Jusqu’à 7200 unités
  • Précision de Pogo Pin +/-50 um
  • La durée du Burn-in est programmable
  • Plage de source 20mA-100mA/0,2A-1,5A 24V
  • Tolérance de mesure 0.2mA +-1%.
  • Température 45-130C par pas de 0,1C
  • Humidité< 85% RH, sans condensation
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