Home / Equipement / Semiconducteur Detection Composants Discrets / Machines Front-End / Wafer Level Burn in / Système de Burn-in test VCSEL/LED/Micro LED Trooper-BI pour wafer-Level
Il s’agit d’une solution complète clé en main pour le probing et burn-in des substrats LED VCSEL pour wafer-level . Le testeur peut tester jusqu’à 7200 DUTS en une seule fois avec une température contrôlée allant jusqu’à 135C. Il possède des caractéristiques intelligentes telles qu’un système intégré de détection des fuites de refroidissement de l’eau et un système de surveillance de la température.
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