Système de Burn-in test VCSEL/LED/Micro LED Trooper-BI pour wafer-Level
Il s’agit d’une solution complète clé en main pour le probing et burn-in des substrats LED VCSEL pour wafer-level . Le testeur peut tester jusqu’à
Le système Trooper-BI Wafer-Leve VCSEL/LED/Micro LED test de Burn-in wafer level est très polyvalent et peut accueillir un large éventail d’unités, jusqu’à 7 200 en même temps. La machine offre une excellente précision du pogo pin de +/-50 um, garantissant des tests extrêmement précis et fiables. En outre, la durée du déverminage est programmable, ce qui permet de personnaliser les procédures de test en fonction de besoins spécifiques. La gamme de sources du système est de 20mA-100mA/0,2A-1,5A 24V, avec une tolérance de mesure de 0,2mA +-1%, ce qui garantit des mesures très précises. La plage de température de 45 à 130 °C par pas de 0,1 °C et le niveau d’humidité de < 85 % HR, sans condensation, garantissent que les conditions de test restent stables tout au long du processus. Le système Trooper-BI de test de Burn-in des VCSEL/LED/Micro LED Wafer-Level est une machine très efficace et fiable avec des capacités de test exceptionnelles.
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