Trooper-BI Wafer-Level VCSEL/LED/Micro LED Burn-in Test System
Es handelt sich um eine schlüsselfertige Lösung für das Testing und Bum-in von VCSEL-LED-Substraten auf Wafer-Ebene. Das Prüfgerät kann bis zu 7 200 DUTs gleichzeitig
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Das Trooper-BI Wafer-Level VCSEL/LED/Micro LED Burn-in Wafer-Level-Testsystem ist äußerst vielseitig und kann eine große Anzahl von Einheiten aufnehmen, bis zu 7.200 auf einmal. Die Maschine bietet eine exzellente Pogo-Pin-Genauigkeit von +/-50 um und gewährleistet so hochpräzise und zuverlässige Tests. Darüber hinaus ist die Burn-in-Dauer programmierbar, was maßgeschneiderte Prüfverfahren ermöglicht, die auf spezifische Bedürfnisse zugeschnitten sind. Der Stromquellenbereich des Systems beträgt 20mA-100mA/0,2A-1,5A 24V, mit einer Messtoleranz von 0,2mA +-1%, was hochgenaue Messungen gewährleistet. Der Temperaturbereich von 45-130C mit 0,1C-Schritten und das Feuchtigkeitsniveau von < 85% RH, nicht kondensierend, gewährleisten, dass die Testbedingungen während des gesamten Prozesses stabil bleiben. Das Trooper-BI Wafer-Level VCSEL/LED/Micro LED Burn-in-Testsystem ist eine hocheffiziente und zuverlässige Maschine mit außergewöhnlichen Testmöglichkeiten.
Es handelt sich um eine schlüsselfertige Lösung für das Testing und Bum-in von VCSEL-LED-Substraten auf Wafer-Ebene. Das Prüfgerät kann bis zu 7 200 DUTs gleichzeitig
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