Optimus 2 Trieur de die de wafer à wafer [entrée simple – sortie double]
Optimus 2 wafer à wafer [entrée unique – sortie double] Tri de die Wafer à Wafer La correction de la position du die assistée par
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Les trieurs de dies
4JMSolutions est fière de sa gamme sophistiquée de trieurs de dies , qui sont intégrés à des systèmes d’inspection optique automatisée (AOI) à la pointe de la technologie. Le triage des puces a longtemps été un élément crucial dans la fabrication des semi-conducteurs, garantissant une organisation efficace et précise des « dies » individuels après le découpage en dés. L’intégration du système AOI améliore considérablement l’exactitude, l’efficacité et la fiabilité du processus de triage des dies.
Voici quelques modèles exceptionnels disponibles chez 4JMSolutions:
Optimus 2 wafer à wafer [entrée unique – sortie double] Tri de die Wafer à Wafer La correction de la position du die assistée par
Optimus MR3 wafer à wafer Tri de dies Wafer à wafee SUPH jusqu’à 15 000 Taille du die 0,5 × 0,5 mm à 15 x
Plaquette C330 sur bande et bobine Trieur de matrices Plaquette à bande et bobine SUPH jusqu’à 30 000 (mode Flip) Inspection des parois latérales de
FS600 Transfert de Die: Wafer vers tray JEDEC Tri de dies Transfert de die du wafer au trayJedec SUPH jusqu’à 6 000 Taille du die
Plaquette C530 sur bande et bobine Trieur de matrices Wafer vers “Tape and Reel” SUPH jusqu’à 45 000 Taille de la matrice : 0,2 ×
Plaquette C340 sur bande et bobine Trieur de wafer Wafer vers “Tape and Reel” SUPH jusqu’à 40 000 de la matrice : 0,2 × 0,4
L’avant-garde de la technologie de flip chip bonding La vague de transformation de la miniaturisation et de l’amélioration de la connectivité dans le monde des
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4JMSolutions a le plaisir de proposer des systèmes avancés d’Inspection Optique Automatique (AOI) des wafers en provenance des plus grands fabricants. Ces systèmes jouent un
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