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Cartographieurs de Wafers

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Impossible d'améliorer ce que l'on ne peut pas mesurer...

Voilà pourquoi nous ne cessons de développer de nouvelles méthodes de mesure. Chez Y Systems, notre objectif est d'être à la pointe de la reproductibilité et de la sensibilité des mesures des propriétés des matériaux. Peu importe qu'il s'agisse d'une observation in situ, d'une mesure externe ou d'une recherche, nous proposons des équipements de mesure entièrement automatisés pour la production.

Caractérisation des Matériaux Phosphorés

Les LED blanches traditionnelles sont fabriquées à partir d’une association de diodes émettrices bleues et d’un matériau phosphorescent jaune.
Une certaine partie de la lumière bleue est absorbée pour produire de la lumière jaune, et une autre partie est transmise.
Une proportion précise de bleu et de jaune est nécessaire pour obtenir une LED blanche spécifique.

Le YWafer-YB (jaune et bleu) a été développé sur le modèle de base de la cartographie de mesure de transmission YWafer-GS, la source de transmission à large bande ayant été substituée par une LED bleue standard généralement utilisée pour fabriquer les diodes électroluminescentes blanches susmentionnées.

YB-Concept

Afin de caractériser correctement l’émission de phosphore et la dispersion de la lumière, plusieurs angles de mesure sont fournis.
(généralement 45 ou 60 degrés par rapport à la normale).
Cela permet une analyse détaillée de la dispersion des coordonnées de couleur sur la tranche.

YB-Concept Software
Analyse en couleur de la dispersion des coordonnées des wafers

YWafer YB est conçu pour fournir la meilleure reproductibilité dans la comparaison de tranche à tranche et vise à aider les plaques de phosphore
les fabricants atteignent l’objectif d’uniformité et de couleur pour la fabrication de LED blanches.

Les YWafer GS4 et RD8 peuvent être configurés pour la caractérisation du phosphore, mais seul le RD8 peut également être configuré pour mesurer l’épaisseur du phosphore, un autre paramètre important.

Cartographieurs de Wafers

YWafer Mapper GS4
Surface de 100x100mm (wafer de 2 à 4 pouces/5 à 10 cm) de photoluminescence, cartographie de l’épaisseur de la couche épitaxiale, système de mesure de la courbure du wafer et plus encore pour les LED/LD, les matériaux pour capteurs, les phosphores en R&D et en production. Jusqu’à 5 sources d’excitation laser de photoluminescence préinstallées, mesure de la transmitivité et de la réflectivité dans un design extrêmement compact.
YWafer Mapper RD8
Surface de 200x200mm (wafer de 2 à 8 pouces/ 5 à 20 cm) pour la photoluminescence, la cartographie de l’épaisseur de la couche épitaxiale, le système de mesure de la courbure du wafer et plus encore pour les LED/LD, les matériaux pour capteurs, les luminophores en R&D et en production. Plusieurs options pour les sources d’excitation laser de photoluminescence préinstallées, la mesure de la transmittivité et de la réflectivité dans un design extrêmement compact.
YWafer Mapper RD8-WL
Introduction du wafer robotisé équipé RD8. Le robot minutieux peut gérer des wafers de 2 à 6 pouces (5 à 15 cm) (RD8-WL26) ou des wafers de 4 à 8 pouces (10 à 20 cm) (RD8-WL48). Surface de 200x200mm (wafer de 2 à 8 pouces) pour la photoluminescence, la cartographie de l’épaisseur de la couche épitaxiale, le système de mesure de la courbure du wafer et plus encore pour les LED/LD, les matériaux pour capteurs, les luminophores en R&D et en production. Plusieurs options pour les sources d’excitation laser de photoluminescence préinstallées, la mesure de la transmittivité et de la réflectivité dans un design extrêmement compact.