Trooper-BI Handler de Burn-in pour VCSEL/LED/Micro LED au Niveau du Wafer

Home / Equipement / Semiconducteur Detection Composants Discrets / Tests et Finitions / Test de déverminage ou Burn-in test / Trooper-BI Handler de Burn-in pour VCSEL/LED/Micro LED au Niveau du Wafer

Trooper-BI Système de test de Burn-in au Niveau du Wafer pour VCSEL/LED/Micro LED

Il s’agit d’une solution clé en main pour sonder et soumettre au burn-in les substrats VCSEL/LED au niveau du wafer. Le testeur est capable de tester jusqu’à 7 200 DUT (Devices Under Test) en une seule fois avec une température contrôlée jusqu’à 135°C. Il est doté de fonctions intelligentes telles qu’un système de refroidissement par eau intégré, un système de détection des fuites et un système de surveillance de la température.

Handler de burn-in
Jusqu’à 7 200 unités
Précision de la broche pogo +/-50 µm
La durée du burn-inest programmable
Gamme de sources 20 mA à 100 mA/0,2 A à 1,5 A 24V CC
Tolérance de mesure 0,2 mA à +-1%.
Température 45°C à 130°C avec incréments de 0,1°C
Humidité< 85% RH, sans condensation
condensing

INDUSTRY

SUB-CATEGORY

PROCESS & FEATURES

PACKAGES

Handler de Burn-in pour Dispositifs de puissance au niveau du Wafer

Handler de Burn-in pour Dispositifs de Puissance au Niveau du Wafer Il s’agit du dernier système de test de Burn-in au niveau du wafer conçu

Handler de Burn-in pour Dispositifs de puissance au niveau du Wafer

Handler de Burn-in pour Dispositifs de Puissance au Niveau du Wafer Il s’agit du dernier système de test de Burn-in au niveau du wafer conçu

Company

4JMSolutions (Malta) Ltd. was founded in 2008 on a solid base of international servicing and more than 25 years of high end industrial experience. Based on the solid principal of providing solutions where the equipment offered is a biproduct of the solution.